一、利用 X射线衍射表征纳米材料：
1．晶粒大小的表征：测量衍射峰的半峰宽， 通过Scherrer公式计算出晶粒大小。
2．物相分析：半导体膜等表面生长纳米材料的研究，在单晶片或其它衬底上利用各种工艺长出不同的物相。
3．材料结构的全面表征：物相、晶粒大小、微应力等，如纳米陶瓷的结构和性能的全面表征

二、X多晶衍射方法在材料开发研制及生产中的应用
X 射线多晶衍射是利用不同构象和晶型的粉末固体对X射线有其特殊的 衍射方向和强度， 得到特征衍射谱。 可以有效地对常见的物相进行鉴别和分析。 同时，该方法的理论发展和应用也不断深入，有大量的应用程序可用于原始数据的初处理，衍射谱的指标化，晶胞参数的计算，空间群的求取，进一步还可进行原子坐标的求取等。药物尤其是有机药物其构象复杂，同一种分子可得到不同的物相， 每一种物相在化学性质和性能方面有很大的不同， 而X射线多晶衍射是最好的判定方法。

应用实例：X射线衍射（XRD）法测定Ni电极材料结构、半高宽、峰高比及其测定方法的研究.doc

                    X射线衍射法测定高岭石合成的NaY分子筛物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比研究.doc

                     XRD在卡尔多炼铅技术中的应用.doc

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