一、技术参数
  1.测角仪角度重现性：0.0001度
  2.闪烁计数器线性范围：2 ～ 10-6 cps

二、主要特点
  1.精度高，角度重现性达0.0001度
  2.元器件实现模块化设计，互换方便
  3.GADDS：采用二维探测器，得到二维衍射信息
  4.“纳米星”：完美的小角散射方案
  5.组合化学衍射仪：超大量的样品库研究

三、利用 X射线衍射表征纳米材料：
  1．晶粒大小的表征：测量衍射峰的半峰宽， 通过Scherrer公式计算出晶粒大小。
  2．物相分析：半导体膜等表面生长纳米材料的研究，在单晶片或其它衬底上利用各种工艺长出不同的物相。
  3．材料结构的全面表征：物相、晶粒大小、微应力等，如纳米陶瓷的结构和性能的全面表征

四、X多晶衍射方法在材料开发研制及生产中的应用
  X 射线多晶衍射是利用不同构象和晶型的粉末固体对X射线有其特殊的 衍射方向和强度， 得到特征衍射谱。 可以有效地对常见的物相进行鉴别和分析。 同时，该方法的理论发展和应用也不断深入，有大量的应用程序可用于原始数据的初处理，衍射谱的指标化，晶胞参数的计算，空间群的求取，进一步还可进行原子坐标的求取等。药物尤其是有机药物其构象复杂，同一种分子可得到不同的物相， 每一种物相在化学性质和性能方面有很大的不同， 而X射线多晶衍射是最好的判定方法。

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